奧林巴斯ASTM E164校準  IIW型試塊

在幾乎每個應(yīng)用中都要用到校準試塊和/或參考試塊。奧林巴斯可為用戶提供用于普通材料的角度聲束校準和厚度校準的多種標準試塊。

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   校準試塊

   所有試塊都使用可追溯到美國*標準及技術(shù)研究所（NIST）的測量設(shè)備進行尺寸檢查。經(jīng)常求購的校準試塊列于下表中。

   類型	工件編號	說明	盒子
   ASTM E164校準 IIW型試塊	TB7541-X	符合AASHTO和AWS的1型試塊的要求。校準距離和靈敏度設(shè)置。測量角度聲束探頭的折射角度和聲束出射點。美制單位（英寸）。	F129
   	TB1136-X	美制單位（英寸）試塊，帶有機玻璃塞	F129
   	TB1054-X	公制單位	F129
   	TB1137-X	公制單位試塊，帶有機玻璃塞	F129
   美國空軍 IIW-2校準試塊	TB5939-X	IIW型試塊，根據(jù)《美國空軍NDI手冊T.O.33B -1-1》。包含用于距離校準的半徑為2英寸和4英寸的切口。帶有3號、5號和8號橫通孔，以及2英寸孔的距離校準標記。	F129
   RC AWS試塊	TB7543-X	根據(jù)AWS和AASHTO的要求，確定角度聲束探頭的分辨率能力。	F157
   SC AWS試塊	TB7545-X	根據(jù)AWS和AASHTO的要求，進行靈敏度和折射角度的校準。	F158
   DC AWS試塊	TB7547-X	根據(jù)AWS和AASHTO的要求，為角度聲束探頭進行距離和聲束步進的校準。	F159
   DSC AWS試塊	TB7549-X	根據(jù)AWS和AASHTO的要求，為角度聲束探頭進行距離、靈敏度、折射角度及聲束步進的校準。	F160
   DS AWS試塊	TB7551-X	根據(jù)AWS和AASHTO的要求，用于水平線性和dB精度程序的校準試塊。	F161
   30FBH分辨率參考試塊	TB7160-X	評價UT設(shè)備的近表面分辨率和缺陷尺寸/深度的靈敏度。帶有3號、5號和8號ASTM平底孔，位于從0.050英寸到1.250英寸之間的10個金屬行程距離處。	包含
   NAVSHIPS試塊	TB7567-X	帶有6個3號橫通孔。用于根據(jù)NAVSHIPS 0900-006-3010標準進行距離波幅校準。	F162
   ASTM E164 MAB試塊	TB7150-X	微型角度聲束（ROMPAS）試塊。用于距離、聲束步進、折射角度及靈敏度的校準。厚度為1英寸。	F197
   ISO 7963鋼制	TB1065-X	微型角度聲束試塊。用于距離、聲束步進、折射角度和靈敏度的校準。厚度為25毫米。	F197

   將工件編號中的“X”替換為以下所列試塊材料對應(yīng)的編號：1 = 1018鋼，2 = 4340鋼，4 = 7075-T6鋁，5 = 304不銹鋼，8 = 6-4鈦

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