ASAHI-SPECTRA朝日分光 光學(xué)式膜厚計(jì) OMD-1000

ASAHI-SPECTRA朝日分光 光學(xué)式膜厚計(jì) OMD-1000

這是一種光譜薄膜厚度監(jiān)測(cè)器，使用單色光監(jiān)測(cè)基板在氣相沉積過程中的光強(qiáng)度變化。 它也用于我們自己的氣相沉積設(shè)備，并在充滿作為氣相沉積部件制造商*知識(shí)的膜厚監(jiān)控裝置中完成。它被連接到氣相沉積設(shè)備上，并監(jiān)測(cè)薄膜厚度。

它可以按照右側(cè)所示進(jìn)行安裝。

長(zhǎng)處

緊湊的設(shè)計(jì)，帶有集成光譜儀

提高抗噪性，實(shí)現(xiàn)可靠的膜厚監(jiān)測(cè)（靜電放電測(cè)試耐壓 ±5kV）

可通過 PC 的命令自動(dòng)控制

控制器內(nèi)置于接收器本體中，以實(shí)現(xiàn)高。

增強(qiáng)的波長(zhǎng)范圍

以前的型號(hào)是濾光片型波長(zhǎng)選擇，但新產(chǎn)品采用了我們經(jīng)過驗(yàn)證的光譜儀，現(xiàn)在可以選擇任何波長(zhǎng)。

薄膜厚度變化的信號(hào)從電壓輸出更改為與個(gè)人計(jì)算機(jī)兼容的數(shù)字輸出，控制機(jī)構(gòu)由個(gè)人計(jì)算機(jī)的命令控制，而不是手動(dòng)作。 此外，通過I/F直接連接個(gè)人計(jì)算機(jī)的薄膜測(cè)厚儀本體進(jìn)行控制，因此沒有其他制造商的控制器，因此是一個(gè)非常緊湊的系統(tǒng)。

ASAHI-SPECTRA（朝日分光）是日本*的光學(xué)技術(shù)企業(yè)，專注于高端分光器、光學(xué)濾光片及定制化光學(xué)元件的研發(fā)與生產(chǎn)。憑借數(shù)十年的技術(shù)積累，該在紫外（UV）、可見光（VIS）到紅外（IR）光譜領(lǐng)域占據(jù)重要地位，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體檢測(cè)、生命科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、工業(yè)測(cè)量及科研領(lǐng)域。
核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)
高精度分光技術(shù)：ASAHI-SPECTRA的分光器（如單色儀、光譜儀）以高分辨率、低雜散光特性著稱，滿足嚴(yán)苛的科研和工業(yè)需求。
*光學(xué)鍍膜工藝：其光學(xué)濾光片（帶通、長(zhǎng)通、短通濾光片等）采用多層鍍膜技術(shù)，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的透射率、截止深度和熱穩(wěn)定性。
定制化解決方案：提供從標(biāo)準(zhǔn)品到完全定制設(shè)計(jì)的光學(xué)元件，靈活應(yīng)對(duì)客戶特殊波長(zhǎng)、尺寸或性能要求。
核心產(chǎn)品線
單色儀與光譜儀：適用于激光分析、熒光測(cè)量等精密應(yīng)用。
光學(xué)濾光片：涵蓋紫外到紅外波段，支持窄帶、寬帶及特殊形狀需求。
光纖光譜系統(tǒng)：集成化設(shè)計(jì)，用于在線檢測(cè)和實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。